基于改进模板匹配及像素相加法的芯片极性二级检测方法

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Affiliation of Author(s):电子电气与物理学院

Journal:仪表技术与传感器

Funded by:省、自治区、直辖市科技项目

Key Words:缺陷检测; 极性检测; 改进模板匹配; 像素相加法

Abstract:针对PCB板缺陷检测中的芯片极性检测问题，文中提出一种结合感兴趣区域提取，改进模板匹配以及像素相加法的芯片极性二级检测方法。该方法首先通过先验知识提取感兴趣区域，并提出改进模板匹配实现对芯片位置快速准确地定位，随后引入直方图匹配及中值滤波对芯片图像进行预处理，最后提出基于像素相加法的二级检测方法实现二值化芯片图像的极性判断。实验结果表明，文中提出的方法在芯片定位及极性检测方面都有更高的准确性。

Note:2021.06.29 通过。报告编号：ZWHX0210222

Indexed by:Journal paper

Document Code:12711

Issue:5

Page Number:91-95

ISSN No.:1002-1841

Translation or Not:no

CN No.:21-1154/TH

Date of Publication:2021-06-15