首页
科学研究
研究领域
论文成果
专利
著作成果
科研项目
科研团队
教学研究
教学资源
授课信息
教学成果
获奖信息
招生信息
学生信息
我的相册
教师博客
专利
一种高频磁元件绕组损耗的测量方法
点击次数：
发布时间：
2022-02-19
所属单位：
电子电气与物理学院
专利范围：
国内
第一作者：
叶建盈
发明设计人：
黄文彬,黄晓生,李锦彬,郑荣进
专利类型：
发明专利
专利状态：
专利授权
申请号：
201811432097.8
授权号：
4283137
发明人数：
5
是否职务专利：
否
申请日期：
2018-11-28
公开日期：
2021-03-02
授权日期：
2021-03-02
上一条：
一种高频功率测量装置
下一条：
一种基于E类逆变器的无线电能传输系统
叶建盈
所在单位：信息科学与工程学院
所属院系：电子电气与物理学院
闽ICP备10022194号-1 福建省福州市闽侯县上街镇学府南路69号，邮编350118
访问量：
次
手机版
English
中文官网
最后更新时间：
.
.
